Diffractomètre des rayons X sur poudre : LabxXRD-6100 Shimadzu

La Diffraction RX est une technique de base de caractérisation des matériaux. Il permet la détermination et l’identification de phases inconnues, minérales, organiques ou inorganiques. Plusieurs services sont offerts:
- Analyse et identification par diffraction d'échantillons
poly-cristallins
- Analyse par diffraction de films ou de fibres. 
- Diffraction/diffusion aux petits angles
- Analyse par diffraction avec températures variables pour 
l'étude de transformation ou de transitions de phases 
- Analyse de texture et de microstructure

 

 
 
L’appareil est équipé de:
- Goniomètre de configuration Bragg-Brentano θ-2θ
- Détecteur à scintillation; type NaI
- Contrôleur de température de l’ambiante jusqu’à 1200°C 
- Vitesse d’acquisition 0.05 – 25 °/min (θ) 
- Reproductibilité de mesure: ± 0,001° (2θ)

 

 
 
 

 

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